HW2000工作站谱图处理方法(其他工作站可参考)
一、背景与目标
项目 | 说明 |
原始谱图问题 | 基线上杂峰较多,水峰影响基线判断,峰面积和峰高不准确 |
处理目标 | 去掉杂峰,保留目标峰,准确判断峰起点/终点,保证峰高/面积测量准确 |
核心手段 | ①禁止判峰(去水峰干扰)②最小峰面积(去杂峰)③峰宽水平(调节终点判断) |
二、五步谱图处理流程(数据/参数清单)
步骤 | 名称 | 核心操作 | 关键参数/数据 | 效果 |
1 | 解决水峰干扰 | 设置“禁止判峰”区域 | 时间范围:0分钟 开始(手动修改处理表时间) | 基线不再以水峰为起点 |
2 | 确定禁止判峰终点 + 峰分离起点 | 在氟离子峰前左键点击,执行“峰分离” | 该时间点作为禁止判峰终点与峰分离起点 | 每个峰独立起点(绿)/终点(红) |
3 | 过滤杂峰 | 设置最小峰面积 | 参考值:2000–5000μS.s(不超过最小目标峰面积);修改后点击黄色“再处理” | 杂峰消失,目标峰保留 |
4 | 改善基线判断(峰宽递增) | 调节起始峰宽水平 + 峰宽递增速度 | 起始峰宽水平:1(以第一个峰为基准);递增速度:5(根据实际调整);修改后点击“再处理” | 大峰终点判断准确,峰面积准确 |
5 | 保存模板 | 填写组份表,保存模板 | 后续可自动处理 |
三、详细操作说明
步骤1:禁止判峰(去水峰干扰)
原因:水峰是最低点,软件自动将其作为基线起点,导致所有峰面积/峰高不准。
操作方法:
鼠标左键点击谱图任意点 → 谱图处理工具栏激活(由灰变黑)。
点击“禁止判峰”(或右键菜单)。
默认从点击点开始禁止判峰,需手动将谱图处理表中的时间改为 0(从0分钟开始禁止)。
效果:见图4、图5。
步骤2:峰分离处理
操作:在氟离子峰前左键点击 → 点击“峰分离”。
作用:
该时间点成为步骤1的禁止判峰终点 + 步骤2的峰分离起点。
适用于所有峰基线分离的情况,每个峰独立起点(绿色)、终点(红色)。
注意:执行后仍会有许多独立小杂峰(见图7)。
步骤3:最小峰面积过滤杂峰
参数设置原则:
查看需要检测的最小目标峰面积。
设置的最小峰面积 ≤ 该值。
推荐范围:2000–5000μS.s(本例设为2000)。
生效方式:修改后点击工具栏黄色“再处理”按钮。
效果:杂峰消失,目标峰全部检出(见图8)。
步骤4:调节峰宽水平(解决峰终点不准确问题)
问题:三个大峰终点判断不准确,峰面积偏小(见图8、图9)。
原理:色谱峰从前到后越来越宽,需要两个参数配合:
起始峰宽水平:以第一个峰为基准,从1开始增加,直到第一个峰终点判断准确。
峰宽递增速度:用于后续峰的终点判断。
本例参数:
起始峰宽水平 = 1
峰宽递增速度 = 5
注意:不同分析条件参数会有差异,需根据实际情况调整。
生效方式:修改后点击黄色“再处理”按钮。
最终效果:见图10。
步骤5:填写组份表并保存模板
操作:填写组份表内容,保存为模板,后续可自动处理。
四、关键参数速查表
参数名称 | 作用 | 设置方法/参考值 | 修改后生效方式 |
禁止判峰时间范围 | 去除水峰干扰 | 手动修改处理表时间为 0 开始 | 自动生效 |
峰分离起点 | 确定各峰独立基线 | 在氟离子峰前点击,执行“峰分离” | 立即生效 |
最小峰面积 | 过滤低于设定值的杂峰 | 参考 2000–5000μS.s(≤最小目标峰面积) | 点击黄色“再处理” |
起始峰宽水平 | 确定第一个峰的终点判断 | 从 1 开始增加至准确 | 点击黄色“再处理” |
峰宽递增速度 | 后续峰终点判断 | 本例 5(需实际优化) | 点击黄色“再处理” |

图1.未处理谱图

图2.水峰影响基线判断

图3.禁止判断处理

图4.禁止判峰后效果

图5.将禁止判断时间修改为0

图6.峰分离处理

图7.杂峰

图8.最小峰面积

图9.模拟基线

图10.调节峰宽水平后的情况

图11.保存为模板
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